Shigeyasu TANAKA



田中 成泰(准教授)



居室:総合研究実験棟305号室
メールアドレス:tanaka<AT>nuee.nagoya-u.ac.jp
<AT>のところは@に置き換えて!

材料開発を支援するための顕微鏡技術を開発しています。
特に電気的、光学的な性質と構造(結晶学的構造)を直接対応させられる方法に力を注いでいます。


半導体界面の電子線ホログラフィによる研究
原理
研究例

STEM-EBIC法の開発と応用
(走査型透過電子顕微鏡法と電子ビーム誘起電流法を組み合わせた方法)
原理
研究例
技術シーズ

STEM-CL法の開発と応用
(走査型透過電子顕微鏡法とカソードルミネッセンス法を組み合わせた方法)

第一原理計算を用いた材料物性の解析

透過電子顕微鏡による半導体の研究
InGaAsP系
GaN系
GaNの極性の解析
ナノサイズSi

試料の薄片化法
光化学エッチング法


講義資料


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